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芯片测试:WAT、CP、FT

WAT(Wafer Acceptance Test)测试,也叫PCM(Process Control Monitoring),对Wafer 划片槽(Scribe Line)测试键(Test Key)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定.

芯片 cp chip wafer wat 2025-10-31 12:39  2

唯卓仕 AF 28mm F4.5 Chip 镜头评测

唯卓仕(Viltrox)AF 28mm F4.5 Chip镜头,这是一款针对尼康Z卡口设计的固定光圈自动对焦镜头——此前该镜头已推出索尼E卡口版本。作为一款“饼干镜头”,它体积小巧、价格亲民,还具备不少有趣特性。本文将结合尼康Z6的实测体验,为大家解析这款轻便

镜头 评测 chip af chip镜头 2025-10-21 09:12  3

表观遗传研究的有力武器——ChIP-seq

在表观遗传研究中明确蛋白质如何与DNA相互作用对揭示转录调控机制至关重要。染色质免疫共沉淀技术(ChIP)是破解这一密码的关键钥匙。但单靠ChIP本身还不够,ChIP技术常与二代测序技术(NGS)结合,形成ChIP-Seq技术。今天小源将带大家一起来走进ChI

chip 表观 表观遗传 核小体 seq 2025-10-14 15:56  3